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為何存在電池電壓衰減的情況

鉅大鋰電  |  點擊量:0  |  2018年08月03日  

研究亮點:

電壓衰減的根源為失氧

失氧造成所有過渡金屬的平均價態(tài)不斷變低(Ni3+/Ni4+電對轉(zhuǎn)化為Ni2+/Ni3+電對,Mn4+/Mn5+電對轉(zhuǎn)化為Mn3+/Mn4+電對,Co3+/Co4+電對轉(zhuǎn)化為Co2+/Co3+電對),導(dǎo)致電壓衰減

失氧還會造成材料顆粒的微瑕疵(如在顆粒內(nèi)部形成大孔),導(dǎo)致電壓衰減

技術(shù)亮點:

同步X射線吸收光譜(XAS)具有加大的穿透功率,能穿透整個陰極,提供體相分析

STEM具有原子層面的空間分辨率,提供表層分析(5nm)

新型三維電子斷層成像技術(shù),觀察孔隙在三維空間上的生長

電壓衰減已經(jīng)成為阻止一系列高能量密度電池電極商業(yè)化的重要原因。富鋰材料,得益于較高的容量(>250mAhg-1vs.<200mAhg-1),是替代傳統(tǒng)陰極材料的理想選擇。但其在循環(huán)過程中,平均電壓不斷衰減,嚴(yán)重影響能量效率且給電池管理系統(tǒng)帶來困難。電壓為何衰減?近日,布魯克爾海文國家實驗室聯(lián)合中科院物理所和阿貢國家實驗室,使用X射線光譜和三維電子顯微鏡成像技術(shù),原位和非原位探索材料在充放電過程中,體相和表面的變化。

氧化還原電對的演變

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圖1Li1.2Ni0.15Co0.1Mn0.55O2的電化學(xué)性:a.充放電曲線;b.dQ/dV圖。電壓衰減問題顯而易見

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圖2Li1.2Ni0.15Co0.1Mn0.55O2中不同元素的XAS結(jié)果。隨循環(huán)進(jìn)行,三種金屬的平均價態(tài)持續(xù)降低,證明體相中過渡金屬和氧的配位能力在減弱。

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圖3Li1.2Ni0.15Co0.1Mn0.55O2在循環(huán)過充中,氧化還原電對的演化:a.每種元素對放電容量的貢獻(xiàn);b.費米能級由于電子結(jié)構(gòu)的變化而升高;c.不同氧化還原電對得失電子時涉及到的不同能級

如圖3a,首周時,O和Ni對容量貢獻(xiàn)占主導(dǎo),然而,隨循環(huán)進(jìn)行,Mn和Co對容量貢獻(xiàn)增多,逐漸補(bǔ)償O和Ni對容量貢獻(xiàn)的減少,最后Co和Mn的容量占主導(dǎo)地位。氧化還原電對從O和Ni逐漸轉(zhuǎn)變成Mn和Co,勢必會影響電壓分布。如圖3b,陰極材料的能態(tài)密度在不斷改變。電池的開路電壓(OCV)由費米能級相對于Li+/Li0能級的差別決定,與將電子從富鋰陰極移動到Li陽極的功焓有關(guān)。起初,材料的費米能級位于Ni2+/Ni3+氧化還原電對之上,循環(huán)后,發(fā)生氧氣釋放并導(dǎo)致TM還原。如Ni傾向于首先在表面還原,形成電子絕緣的非活性巖鹽相,降低Ni對容量的貢獻(xiàn);Mn和Co的還原產(chǎn)生Mn3+/Mn4+和Co2+/Co3+氧化還原電對,這種還原能將費米能級變得更高,導(dǎo)致OCV變低以及工作電壓變低。這個過程也能解釋為什么O對容量的貢獻(xiàn)逐漸減少,由于TM還原,TM與O的共價鍵減弱,造成參與氧化還原的O減少。

比較圖3c不難發(fā)現(xiàn),Ni2+/Ni3+與Ni3+/Ni4+電對的能級差最小(△E),而Co2+/Co3+和Co3+/Co4+電對的能級差加大,Mn3+/Mn4+與Mn4+/Mn5+電對的能級差更大。能級差的不同是因為電子結(jié)構(gòu)不同。對Mn和Co而言,從一個電對變到另一個,需要設(shè)計不同的軌道。如Co2+/Co3+電對變成Co3+/Co4+電對,涉及到在自旋向上eg軌道上失去(氧化)或得到(還原)一個電子。然而對于Ni,Ni2+/Ni3+電對與Ni3+/Ni4+電對的轉(zhuǎn)變,涉及的電子得失是在同一軌道(自旋向上eg)。因此,Mn和Co是OCV下降和所謂電壓衰減主要原因。

表面反應(yīng)

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圖4Li1.2Ni0.15Co0.1Mn0.55O2表層分解導(dǎo)致過電位增大:a.富鋰材料在充電態(tài)下的O譜及各參考組分的O譜;b.充電態(tài)(圈)與放電態(tài)(線)的O譜;c.C譜;d.循環(huán)前后的示意圖,循環(huán)后形成新界面、表面發(fā)生重組且導(dǎo)電碳降解

前面所述的XAS能提供豐富的體相反應(yīng)信息,而軟XAS技術(shù)則能對材料的表面進(jìn)行表征(5nm)。O譜所有的峰如圖4a所示,隨循環(huán)進(jìn)行,代表MnO2的峰不斷減弱,而代表NiO的特征峰不斷增強(qiáng),證明表面結(jié)構(gòu)發(fā)生重組,巖鹽結(jié)構(gòu)因此生成。圖4b中代表Li2CO3的峰(535eV以上)逐漸變強(qiáng),代表表面OH物種增多,是因為電解液分解而形成不同的有機(jī)/無機(jī)化合物,如Li2CO3、RCO2Li等。C譜所有的峰如圖4c所示,284.8eV和292.6eV歸結(jié)于導(dǎo)電碳的π反成鍵和σ反成鍵,290.2eV歸結(jié)于Li2CO3中的CO32-。隨循環(huán)進(jìn)行,導(dǎo)電碳的特征峰減弱,證明導(dǎo)電碳黑逐漸分解,可能是因為在高電壓下,PF6-嵌入石墨中。相反,歸屬于Li2CO3的峰增強(qiáng),Li2CO3代表陰極界面膜(CEI)的產(chǎn)物,意味著CEI隨循環(huán)進(jìn)行在不斷生長。CEI的增長會使電化學(xué)反應(yīng)動力學(xué)更加滯后,造成過電勢增加且電壓衰減。

微結(jié)構(gòu)瓦解的開始和蔓延

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圖5Li1.2Ni0.15Co0.1Mn0.55O2材料的三維斷層圖:a.初始態(tài)和b.循環(huán)15周后的顆粒截面圖;內(nèi)部孔徑分布圖(c、d)初始態(tài)和(e、f)循環(huán)15周后

失氧怎樣誘使材料的微觀結(jié)構(gòu)發(fā)生改變?研究人員采用ADF-STEM成像和空間分辨EELS來研究結(jié)構(gòu)的成核和演變過程。初始態(tài)和循環(huán)15周后,陰極材料的3D內(nèi)部結(jié)構(gòu)如圖5a、b所示,圖5b能觀察到循環(huán)后顆粒內(nèi)部產(chǎn)生一些大孔。通過定量分析孔徑,可推斷這些大孔在一開始并不存在(圖5c、d),但15周時,大孔占據(jù)材料孔隙率的絕大部分(圖5e、f)。這種大孔是在循環(huán)的過程中產(chǎn)生的,很可能是由失氧所留下的成核空位演化而成的。

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圖6顆粒表面暴露的孔隙(a)和體相隱藏的孔隙(b)的空間分辨EELS分布

為進(jìn)一步弄清這些大孔的成因,科研人員采用STEM-EELS技術(shù)來分析材料顆粒中的孔結(jié)構(gòu),例如,研究對象為顆粒體相中一個隱藏的孔隙和顆粒表面一個暴露的孔隙。圖6a顯示隱藏的孔周圍形成了一層薄的Mn2+殼。由于這些小孔隙發(fā)現(xiàn)于初始材料中,故形成于材料的制備過程,其形狀和大小保持不變直至在其周圍開始產(chǎn)生氧氣(循環(huán)過程中)。與之對應(yīng)的是暴露的孔隙,這些孔隙與電解液接觸,會逐漸形成一層厚的尖晶石相/巖鹽相,因此,EELS相對濃度分布表明,表面體積中的Mn相對含量增加。其實,很多孔隙既不是完全隱藏也不是完全暴露的。這種部分暴露的孔隙周圍,存在氧氣擴(kuò)散通道(以微結(jié)構(gòu)瑕疵、位錯和晶界的形式存在),隨循環(huán)進(jìn)行,孔會變多且變大,與那些完全暴露的孔隙一起,加速結(jié)構(gòu)的相變、O2的進(jìn)一步釋放、微結(jié)構(gòu)瑕疵的產(chǎn)生和電壓衰減。

如何抑制失氧

失氧是電壓衰減的根源,怎樣才能抑制失氧?一種方法是對材料表/界面進(jìn)行處理。例如,表面包覆能減少電解液與界面的直接接觸。注意最好對初級顆粒進(jìn)行包覆,而非次級顆粒。除包覆外,還可以在顆粒表面引入氧空位,這種表面處理方式能顯著減少失氧。另一種方法就是體相摻雜。例如,摻雜Al陽離子,Al能占據(jù)四面體位點,因此能抑制過渡金屬離子向四面體空位遷移,這種遷移過程是伴隨相轉(zhuǎn)變過程與失氧過程同時發(fā)生的。

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圖7Li1.2Ni0.15Co0.1Mn0.55O2材料與經(jīng)AlF3包覆后的熱穩(wěn)定性對比:a.加熱過程中的原位XRD說明沒包覆的材料更快經(jīng)歷相變(R代表斜方六面體相,S代表尖晶石相);b.加熱過程中的氧釋放情況,沒包覆的材料在更低的溫度下就會釋放氧。

無論測試循環(huán)性能測試還是熱穩(wěn)定性測試,都涉及氧的釋放和隨之引起的過渡金屬的還原、遷移。相比之下,熱穩(wěn)定性測試的耗時短、用量少,因此可以替代循環(huán)測試,評估材料的結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性。材料熱穩(wěn)定性的高低可直接用來評估電壓衰減的程度。

結(jié)論

失氧是引起電壓衰減問題的根源。氧釋放會造成材料更高的比表面以及使顆粒內(nèi)部產(chǎn)生更多的缺陷,這將進(jìn)一步加速氧釋放過程;氧釋放引起Mn和Co的還原(向低價態(tài)電對Mn3+/Mn4+和Co2+/Co3+轉(zhuǎn)化),造成電壓衰減;此外,氧釋放加速表面重組,陰極界面膜(CEI)的傳質(zhì)變慢且電化學(xué)性能變差,造成電壓衰減。今后的科研工作應(yīng)圍繞抑制氧釋放展開,主要途徑為表/界面處理或體相摻雜。

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